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飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)

更新時間↟╃✘│:2019-06-11
產品型號↟╃✘│:Phenom GSR
所屬分類↟╃✘│:高解析度臺式掃描電鏡
描述↟╃✘│:飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)是在臺式掃描電鏡執行自動射擊殘留物分析軟體☁◕◕▩。其設計基於飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL☁◕◕▩。軟體和硬體*一體化╃•╃◕,以提高使用者操作介面友好性╃•╃◕,可靠性和分析速度☁◕◕▩。Phenom GSR 包括以下三個專案↟╃✘│:自動射擊殘留物分析和分類軟體包╃•╃◕,BSED 和 EDS 探頭內部整合╃•╃◕,校準試樣☁◕◕▩。
詳情介紹

  飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)的背散射成像╃•╃◕,用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒☁◕◕▩。一旦發現可疑的顆粒╃•╃◕,使用能譜(EDS)識別在該粒子中的元素☁◕◕▩。zui常見的搜尋元素為 Pb╃•╃◕,Sb 和 Ba☁◕◕▩。無鉛底火的檢測╃•╃◕,例如 Ti 和 Zn 也可為搜尋條件進行搜尋☁◕◕▩。

  飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)是在臺式掃描電鏡執行自動射擊殘留物分析軟體☁◕◕▩。其設計基於飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL☁◕◕▩。軟體和硬體*一體化╃•╃◕,以提高使用者操作介面友好性╃•╃◕,可靠性和分析速度☁◕◕▩。Phenom GSR 包括以下三個專案↟╃✘│:自動射擊殘留物分析和分類軟體包╃•╃◕,BSED 和 EDS 探頭內部整合╃•╃◕,校準試樣☁◕◕▩。

  配備 CeB6 燈絲╃•╃◕,使其穩定執行╃•╃◕,燈絲壽命不低於 1500 個小時╃•╃◕,從可用性╃•╃◕,適用性和執行時間的角度來看都非常理想☁◕◕▩。小於 1 分鐘的載入時間╃•╃◕,和快速的全自動馬達樣品臺╃•╃◕,使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具╃•╃◕,可以用來進行自動射擊殘留物分析☁◕◕▩。

 

飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR

  • 基於 CeB6 燈絲的高分辨影象

  • 直觀易用的 GSR 軟體

  • 高吞吐量╃•╃◕,一次性放置多達 36 個試樣

  • 操作簡單╃•╃◕,*丟失導航系統╃•╃◕,*整合能譜儀

  • 測量結果準確可靠╃•╃◕,廣泛相容法醫領域的各類應用

規格引數

光學放大3 - 16 X
電子光學放大80 - 100,000 X
解析度優於 20 nm
數字放大Max. 12 X
光學導航相機彩色
加速電壓4.8 Kv - 20.5 Kv 連續可調
真空模式

高解析度模式

降低核電效應模式

高真空模式

探測器背散射電子探測器

二次電子探測器 (選配)

樣品尺寸zui大 100 mm X 100 mm

可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺

樣品高度zui高 65 mm╃•╃◕,樣品高度全自動調節

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郵箱↟╃✘│:info@phenom-china.com

地址↟╃✘│:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5╃•╃◕,705 室

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