掃描電鏡報價是利用二次電子訊號成像來觀察樣品的表面形態✘✘·。掃描電鏡（SEM）是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段╃☁✘✘☁，可直接利用樣品表面材料的物質效能進行微觀成像✘✘·。
掃描電鏡利用電子和物質的相互作用╃☁✘✘☁，可以獲取被測樣品本身的各種物理•₪•·、化學性質的資訊╃☁✘✘☁，如形貌•₪•·、組成•₪•·、晶體結構•₪•·、電子結構和內部電場或磁場等等✘✘·。掃描電子顯微鏡正是根據上述不同資訊產生的機理╃☁✘✘☁，採用不同的資訊檢測器╃☁✘✘☁，使選擇檢測得以實現✘✘·。如對二次電子•₪•·、背散射電子的採集╃☁✘✘☁，可得到有關物質微觀形貌的資訊；對x射線的採集（能譜EDS）╃☁✘✘☁，可得到物質化學成分的資訊✘✘·。
從原理上講╃☁✘✘☁，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描╃☁✘✘☁，激發出各種物理資訊✘✘·。透過對這些資訊的接受•₪•·、放大和顯示成像╃☁✘✘☁，獲得測試試樣表面形貌的觀察╃☁✘✘☁，掃描電鏡可以直接觀察觀察奈米材料╃☁✘✘☁，進行材料斷口的分析╃☁✘✘☁，直接觀察原始表面等✘✘·。
而環境掃描電鏡的工作原理是採用多級真空壓差技術╃☁✘✘☁，在保持電子槍和鏡筒的高真空狀態下╃☁✘✘☁，樣品室內可以保持較高的氣壓及較高的溼度和壓力╃☁✘✘☁，而且溫度可調╃☁✘✘☁，氣體二次電子探頭接收不導電樣品表面訊號╃☁✘✘☁，便於觀察新鮮活體生物樣品╃☁✘✘☁，解決了生物樣品失水變形問題✘✘·。樣品無須乾燥及鍍膜╃☁✘✘☁，能保持生物活體形態結構的真實性✘✘·。
環境掃描電鏡既可以在高真空狀態下工作╃☁✘✘☁，又可以在低直空狀態下工作✘✘·。在利用高真空功能的時候╃☁✘✘☁，對於非導電材料和溼潤試樣╃☁✘✘☁，要經過固定•₪•·、脫水╃☁✘✘☁，乾燥╃☁✘✘☁，鍍膜等系列處理後方可觀察✘✘·。利用低真空功能╃☁✘✘☁，樣品可以省略預處理環節╃☁✘✘☁，直接觀察試樣╃☁✘✘☁，不存在化學固定所產生的各種問題╃☁✘✘☁，甚至可以觀察活體生物樣品✘✘·。
