飛納電鏡為客戶配備了二次電子成像模式✘☁☁☁✘，使得對樣品立體外觀形貌的觀察又上了一個臺階✘↟。飛納電鏡擁有了兩隻觀測樣品的“眼睛”——背散射探測器（BSD）和二次電子探測器（SED）✘☁☁☁✘，不管您有什麼觀測需求✘☁☁☁✘，這兩隻“眼睛”都可以滿足您絕大部分的要求✘↟。

二次電子模式

飛納臺式掃描電鏡內部可配備二次電子探頭✘☁☁☁✘，收集從樣品中被轟擊出的二次電子✘↟。這些二次電子主要來源於距樣品 1~10nm 的表面✘☁☁☁✘，由於入射深度小✘☁☁☁✘，入射電子的作用區域與入射束的束斑尺寸差別不大✘☁☁☁✘，所以相同條件下✘☁☁☁✘，二次電子的解析度是優於背散射影象的✘↟。而且✘☁☁☁✘，由於二次電子對樣品傾斜角度更敏感✘☁☁☁✘，二次電子影象可以呈現更好的立體形貌✘☁☁☁✘，如下圖所示✘↟。