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掃描電鏡的兩隻“眼睛” —— 背散射模式和二次電子模式

 釋出時間•▩:2020/7/21 點選量•▩:1333
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詳細介紹•▩:

飛納電鏡為客戶配備了二次電子成像模式│₪,使得對樣品立體外觀形貌的觀察又上了一個臺階☁╃╃。飛納電鏡擁有了兩隻觀測樣品的“眼睛”——背散射探測器(BSD)和二次電子探測器(SED)│₪,不管您有什麼觀測需求│₪,這兩隻“眼睛”都可以滿足您絕大部分的要求☁╃╃。

 

二次電子模式

 

飛納臺式掃描電鏡內部可配備二次電子探頭│₪,收集從樣品中被轟擊出的二次電子☁╃╃。這些二次電子主要來源於距樣品 1~10nm 的表面│₪,由於入射深度小│₪,入射電子的作用區域與入射束的束斑尺寸差別不大│₪,所以相同條件下│₪,二次電子的解析度是優於背散射影象的☁╃╃。而且│₪,由於二次電子對樣品傾斜角度更敏感│₪,二次電子影象可以呈現更好的立體形貌│₪,如下圖所示☁╃╃。

 

 

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