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為什麼掃描電鏡(SEM)是表徵奈米顆粒的實用技術

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詳細介紹↟◕•:

微觀顆粒在各個領域中的應用飛速增長││☁▩,而這些微觀顆粒的使用關鍵在於控制其效能引數₪▩·。這篇文章將解釋為什麼需要地對顆粒進行監測和表徵││☁▩,以及掃描電鏡如何在這個過程中扮演重要角色││☁▩,主要得益於其多功能性和的空間解析度₪▩·。

 

“顆粒” 指在一定尺寸範圍內具有特定形狀的幾何體││☁▩,這裡所說的尺寸一般在毫米到奈米之間₪▩·。實際上顆粒可以從亞原子尺寸(大小為10-15米)││☁▩,到微觀範圍的原子(0.3Å)和分子(nm-μm)││☁▩,再到宏觀尺寸││☁▩,包括塵埃粒子 ││☁▩,塵土││☁▩,皮膚(mm-cm)等₪▩·。因此││☁▩,對“顆粒”定義是相當困難的││☁▩,通常可理解為顆粒在尺寸和形狀方面變化很大₪▩·。

 

微觀顆粒↟◕•:它們為什麼如此有趣?

 

微觀顆粒 —— 這類顆粒非常有趣││☁▩,因為它們被廣泛應用於陶瓷☁✘、食品工業☁✘、電子☁✘、聚合物和塑膠☁✘、化妝品和製藥等領域₪▩·。經證明││☁▩,這些顆粒的大小和形狀會影響材料的效能₪▩·。

 

一般而言││☁▩,大多數材料都與尺寸相關₪▩·。相同材料在奈米尺寸上的物理性質不同於宏觀尺度上的物理性質₪▩·。造成這種現象的有幾個因素↟◕•:首先││☁▩,當材料到達奈米尺寸││☁▩,經典力學不再能夠描述這些過程││☁▩,需要用到量子力學來描述₪▩·。此外││☁▩,材料的尺寸越小││☁▩,比表面積增大││☁▩,可能會影響材料的某些效能(圖1)₪▩·。

 

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