復納科學儀器(上海)有限公司
資料下載
您現在所在位置↟╃✘│:首頁 > 下載中心 > 背散射電子的應用——通道襯度成像

背散射電子的應用——通道襯度成像

 釋出時間↟╃✘│:2019/4/19 點選量↟╃✘│:2102
  • 提 供 商↟╃✘│:

    復納科學儀器(上海)有限公司

    資料大小↟╃✘│:

  • 圖片型別↟╃✘│:

    資料型別↟╃✘│:

    PDF
  • 下載次數↟╃✘│:

    264

    點選下載↟╃✘│:

    檔案下載    

詳細介紹↟╃✘│:

背散射電子成像簡介

 

掃描電鏡成像主要是利用樣品表面的微區特徵╃•╃◕,如形貌◕╃•、原子序數◕╃•、晶體結構或位向等差異╃•╃◕,在電子束作用下產生不同強度的物理訊號╃•╃◕,使熒光屏上不同的區域呈現出不同的亮度╃•╃◕,從而獲得具有一定襯度的影象☁◕◕▩。

 

當電子束和試樣表層發生作用時╃•╃◕,會產生大量的背散射電子╃•╃◕,這些背散射電子襯度包含三種資訊↟╃✘│:

 

1. 樣品表層形貌資訊╃•╃◕,凸起◕╃•、尖銳和傾斜面的背散射電子多╃•╃◕,探頭接收到的訊號強╃•╃◕,影象較亮╃•╃◕,即形貌襯度(topography contrast);


2. 原子序數資訊╃•╃◕,原子序數越大╃•╃◕,背散射電子越多╃•╃◕,探頭接收到的訊號越強╃•╃◕,反映在影象上就越亮╃•╃◕,即原子序數襯度成像(Z-contrast);


3. 晶體取向資訊╃•╃◕,背散射電子的強度取決於入射電子束與晶面的相對取向☁◕◕▩。晶體取向和入射電子束方向的改變均可導致BSE強度的改變(Electron channeling contrast╃•╃◕,簡稱ECC╃•╃◕,由此得到的襯度像簡稱ECCI)☁◕◕▩。

 

這篇文章主要講ECCI 的原理及應用☁◕◕▩。

傳真↟╃✘│:

郵箱↟╃✘│:info@phenom-china.com

地址↟╃✘│:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5╃•╃◕,705 室

版權所有 © 2018 復納科學儀器(上海)有限公司   備案號↟╃✘│:滬ICP備12015467號-2  管理登陸  技術支援↟╃✘│:化工儀器網  GoogleSitemap

聯絡人
線上客服
掃碼關注我們
用心服務 成就你我
中文字幕一区二区精品区,亚洲国产初高中生女av,18禁止午夜福利体验区,老少伦xxxx欧美
掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
訪問手機站