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利用掃描電鏡全面瞭解樣品

 釋出時間☁↟↟◕:2017/11/13 點選量☁↟↟◕:814
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詳細介紹☁↟↟◕:

樣品名稱

鉛電池極片框架

 

樣品型別

金屬☁·││↟,固體

 

是否噴金

未噴金

 

裝置型號

飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pure+

 

測試專案

  • 掃描電鏡☁↟↟◕:

     背散射探頭模式

     Topo 模式

     3D 粗糙度重建

     二次電子探頭

  • 能譜☁↟↟◕:

     EDS mapping

 

測試目的

表面鍍層質量觀察

 

傳真☁↟↟◕:

郵箱☁↟↟◕:info@phenom-china.com

地址☁↟↟◕:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5☁·││↟,705 室

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