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掃描電子顯微鏡提高了影象質量和分析精度

 釋出時間▩↟│▩:2020-03-16 點選量▩↟│▩:779
   掃描電子顯微鏡能夠輕鬆快速獲取高質量的的二次電子和背散射電子像·☁•。採用矽漂移探測技術的嵌入式系統•╃▩↟╃,具有面分佈分析✘▩•↟↟、多點分析✘▩•↟↟、自動漂移補償✘▩•↟↟、線掃描等功能·☁•。
   電子顯微鏡表面分析儀優點:①有較高的放大倍數•╃▩↟╃,幾萬~幾十萬倍之間連續可調;②有很大的景深•╃▩↟╃,視野大•╃▩↟╃,成像富有立體感•╃▩↟╃,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;③試樣製備 簡單·☁•。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置•╃▩↟╃,這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區成分分析•╃▩↟╃,因此它是當今十分有用的科學研究儀器·☁•。
   掃描電鏡由真空系統✘▩•↟↟、電子光學系統✘▩•↟↟、樣品室和樣品臺✘▩•↟↟、電子探測器✘▩•↟↟、背散射電子探頭✘▩•↟↟、真空泵✘▩•↟↟、自動穩壓器✘▩•↟↟、工具✘▩•↟↟、計算機✘▩•↟↟、操作軟體及附件組成•╃▩↟╃,主要用於材料科學✘▩•↟↟、化學化工✘▩•↟↟、生命科學以及相關領域的研究工作•╃▩↟╃,對各種材料✘▩•↟↟、化工產品✘▩•↟↟、生物製品✘▩•↟↟、非金屬礦及深加工產品等進行觀測·☁•。掃描電子顯微鏡介面的右上角的功能顯示框:幫組和關閉按鈕▩↟│▩:幫組可以開啟幫助檔案•╃▩↟╃,關閉按鈕功能就是關閉實驗·☁•。
   存放實驗所需的儀器•╃▩↟╃,滑鼠移動到儀器欄中的儀器上•╃▩↟╃,實驗提示欄會給出相應實驗儀器的描述資訊•╃▩↟╃,顯示實驗過程中的儀器資訊•╃▩↟╃,實驗內容資訊•╃▩↟╃,儀器功能按鈕資訊等相關資訊•╃▩↟╃,按F1鍵可以獲得更多幫助資訊•╃▩↟╃,顯示實驗名稱和實驗內容資訊(多個實驗內容依次列出)•╃▩↟╃,當前實驗內容顯示為紅色•╃▩↟╃,其他實驗內容為藍色;可以透過單擊實驗內容進行實驗內容之間的切換•╃▩↟╃,切換至新 的實驗內容後•╃▩↟╃,實驗桌上的儀器會重新按照當前實驗內容進行初始化·☁•。
   顯微鏡是一款具有處理所有型別材料能力的分析性點味精•╃▩↟╃,可以提供的成像質量•╃▩↟╃,配備X射線能譜儀介面•╃▩↟╃,並有X射線幾何設計•╃▩↟╃,可對所有樣品進行精確分析•╃▩↟╃,對於非導體採用電子束襯管技術也提高了影象質量和分析精度·☁•。
 

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